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新功能来袭--四探针电阻率测试

发布者:本网 | 浏览次数:
发布时间:2019-05-09

   2018年我们正式推出了四探针电阻率测量方法,该方法细分为四种,具体包括:器件电阻电源内阻测量、四探针方块电阻测量、线状材料电阻率测量、刀型探头方块电阻测量。
   在RST系列电化学工作站中,型号为RST5070F和RST5210F的电化学工作站具有四探针电阻率测试方法。四探针电阻率测试方法是检验和分析导体和半导体材料质量的一种重要的工具,适用于生产企业、高等院校及各类科研部门。
   该测试方法与电化学工作站中的其他方法一样,软件界面友好、参数设置简单明了。启动测试后,仪器按设定的参数自动连续采集数据,在屏幕上实时显示电阻-时间曲线。测试结束后,根据电阻形态参数自动换算成电阻率及电导率,无需人工计算。配备的专用电化学工作站软件在电脑上运行,可随时显示、保存、打印数据和图形,以备存查。
   本方法的设置参数有:电阻形态及尺寸、探针形状及间距、激励电流及可测电阻范围、预热时间、样点间隔、样点数量、被测器件电动势等。
   测试工具可根据被测产品及测试项目的要求选购,配置不同的测试工具可满足不同材料的测试要求。
   本仪器的四探针电阻率测量方法适用于分立电阻、线状电阻、面状电阻、块状电阻、直流器件内阻。也就是说,可测量导体及半导体材料的轴向电阻率、径向电阻率、扩散层薄膜电阻率。本仪器具有自动电位扣除功能,因此可测量含源直流器件内阻。

电阻形态

 例子

 分立电阻

 各种类型电阻器件

 线状电阻

 铜线、铜棒、铝线、铝棒、铁丝、导电性纤维

面状电阻

 导电覆盖膜、ITO导电膜玻璃、金属化标签、半导体外延层扩散层、

 触屏薄膜、合金类箔膜、电极涂料导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜

 块状电阻

 金属方块电阻、金属圆块电阻、半导体材料晶块、半导体材料

 晶圆导电橡胶、导电性塑料、导电性陶瓷、导电性糊状物

直流器件内阻

 锂离子电池、铅酸蓄电池、干电池、钮扣电池

 



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